MAHR MarSurf Conturograph

MAHR MarSurf Conturograph
Conseil
lot num. 19
Heure de fin : 24/09/24 14h18
2 900 € Offre actuelle la plus élevée
1 Offre 10 observateurs
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MAHR MarSurf Conturograph
24/09/24 14h18
Heure de fin
2 900 €
Offre actuelle la plus élevée
Nom
MAHR MarSurf Conturograph
Article n°
945935
Fabricant
MAHR
Modèle / Type
MarSurf
Année de fabrication
2007
Article disponible à partir de
immediately
Qualité de l'article
Lieu
Allemagne, 72189 Vöhringen
Frais d’enchère
18 %
Coût de démantèlement et de chargement (obligatoire)
500,00 €
Prix total
plus TVA
Frais d’envoi
non inclus
Conditions de livraison
FCA Vöhringen, chargée sur camion
Conditions de paiement
100% du paiement avant la collecte
Dimensions d'installation approximatives (LxlxH)
1 600 x 800 x 1 200 mm
Poids approx.
200 Kg
  • Measuring station MarSurf XC 2
  • including midrange standard control,
  • XC 2 software, Mahr License Key
  • MarWin PC
  • Monitor TFT 24
  • Manual control panel MCP 23
  • Feed unit CD 120
  • Measuring stand ST-500
  • with HG plate 700 mm x 550 mm
  • Fixture PCV / CD 120
  • XY table CT 120
  • Rotary adjustment for CT 120
  • Calibration set contour standard
  • Parallel vice PPS
Technical data
  • Hard stone panel 700 mm x 550 mm (L x W) with three
  • 10 mm wide T-slots
  • Measuring column with electrically adjustable height adjustment range
  • of 500 mm* for the feed unit
  • Easy to change holders
  • The measuring stand contains a manual mechanical
  • angle adjustment for the feed unit
  • ST750 = 750 mm
  • Scanning range (in X) 0.2 mm to 120 mm
  • Measuring range (in Z) 50 mm with 350 mm probe arm
  • 25 mm with 175 mm probe arm
  • Measuring system (in X) High-precision incremental measuring system
  • (factory calibration with laser interferometer)
  • Measuring system (in Z) Inductive transducer with high accuracy and linearity
  • linearity
  • Resolution (in Z) in relation to probe tip 0.38 μm with 350 mm probe arm
  • probe arm
  • 0.19 μm with 175 mm probe arm
  • Resolution (in Z) in relation to the measuring system 0.04 μm
  • Guide deviation 1 μm (over 120 mm)
  • Measuring direction (in X) forwards (+X), backwards (-X)
  • Probing direction (in Z) downwards (-Z), upwards (+Z)
  • Measuring force (in Z) 1 mN to 120 mN, downwards and upwards
  • (adjustable in MarSurf XC 2)
  • Scanning angle on smooth surfaces depending on deflection:
  • falling edges up to 88°, rising edges up to 77°
  • Measuring speed (in X) 0.2 mm / s to 4 mm / s
  • Probing speed (in Z) 0.1 mm / s to 1 mm / s
  • Positioning speed (in X)
  • and return speed 0.2 mm / s to 8 mm / s
  • Positioning speed (in Z) 0.2 mm / s to 10 mm / s
  • Probe arm length 175 mm, 350 mm
  • Probe tip radius 25 μm
Montrer la traduction
Traduction automatique
Nom de l’enchère
Machines et inventaire pour le travail du métal
lot num.
19
Documents
Conditions spécifiques de l'enchère
Visite
Le lieu exact est communiqué sur demande
Pas de date fixe.

Visite uniquement sur rendez-vous, il faut s'inscrire sur lqu@surplex.com
Enlèvement
Lundi, 30/09/2024 à
Jeudi, 03/10/2024, respectivement
de 8h00 Heure à 16h00 Heure


Nos services
  • Service personnalisé en 16 langues
  • Conseil sur place & par des experts
  • Organisation du transport si nécessaire
  • Assistance pour les papiers & les formalités douanières