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lotto n. 19
2.900 €
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più sovrapprezzo e IVA
24/09/24 14:18
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Dettagli dell'articolo
- Nome
- MAHR MarSurf Conturograph
- Numero articolo
- 945935
- Produttore
- MAHR
- Modello / Tipo
- MarSurf
- Anno di produzione
- 2007
- Articolo disponibile da
- immediately
- Stato dell'articolo
- Ubicazione
-
Germania, 72189 Vöhringen
- Mostra sulla mappa
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Costi e benefici
- 18 %
- 500,00 €
- Prezzo Totale
- IVA esclusa
- Costi di trasporto
- non incluso
- Termini di consegna
- FCA Vöhringen, caricato su camion
- Termini di pagamento
- pagamento 100% prima della consegna
Dettagli tecnici
- dimensioni totali ca. (lungh. x largh. x alt.)
- 1.600 x 800 x 1.200 mm
- peso ca.
- 200 kg
Descrizione dell'articolo:
- Measuring station MarSurf XC 2
- including midrange standard control,
- XC 2 software, Mahr License Key
- MarWin PC
- Monitor TFT 24
- Manual control panel MCP 23
- Feed unit CD 120
- Measuring stand ST-500
- with HG plate 700 mm x 550 mm
- Fixture PCV / CD 120
- XY table CT 120
- Rotary adjustment for CT 120
- Calibration set contour standard
- Parallel vice PPS
- Hard stone panel 700 mm x 550 mm (L x W) with three
- 10 mm wide T-slots
- Measuring column with electrically adjustable height adjustment range
- of 500 mm* for the feed unit
- Easy to change holders
- The measuring stand contains a manual mechanical
- angle adjustment for the feed unit
- ST750 = 750 mm
- Scanning range (in X) 0.2 mm to 120 mm
- Measuring range (in Z) 50 mm with 350 mm probe arm
- 25 mm with 175 mm probe arm
- Measuring system (in X) High-precision incremental measuring system
- (factory calibration with laser interferometer)
- Measuring system (in Z) Inductive transducer with high accuracy and linearity
- linearity
- Resolution (in Z) in relation to probe tip 0.38 μm with 350 mm probe arm
- probe arm
- 0.19 μm with 175 mm probe arm
- Resolution (in Z) in relation to the measuring system 0.04 μm
- Guide deviation 1 μm (over 120 mm)
- Measuring direction (in X) forwards (+X), backwards (-X)
- Probing direction (in Z) downwards (-Z), upwards (+Z)
- Measuring force (in Z) 1 mN to 120 mN, downwards and upwards
- (adjustable in MarSurf XC 2)
- Scanning angle on smooth surfaces depending on deflection:
- falling edges up to 88°, rising edges up to 77°
- Measuring speed (in X) 0.2 mm / s to 4 mm / s
- Probing speed (in Z) 0.1 mm / s to 1 mm / s
- Positioning speed (in X)
- and return speed 0.2 mm / s to 8 mm / s
- Positioning speed (in Z) 0.2 mm / s to 10 mm / s
- Probe arm length 175 mm, 350 mm
- Probe tip radius 25 μm
Traduzione automatica
Dettagli dell'asta
- lotto n.
- 19
- Documenti
- Termini speciali per l’asta
- Ispezione
-
L'esatta ubicazione degli articoli è disponibile su richiesta.
Non è disponibile una data fissa.
Ispezione solo previa iscrizione all’indirizzo lqu@surplex.com
- Ritiro
-
Da
Lunedi, 30/09/2024
A Giovedi, 03/10/2024, ogni giorno
dalle ore 08:00 alle ore 16:00
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