Rebajado
lote núm. 19
2.900 €
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24/09/24 14:18
Cierre
2.900 €
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Detalles del artículo
- Denominación
- MAHR MarSurf Conturograph
- Número de artículo
- 945935
- Fabricante
- MAHR
- Modelo/Tipo
- MarSurf
- Año de fabricación
- 2007
- Disponibilidad
- immediately
- Estado
- Lugar
-
Alemania, 72189 Vöhringen
- Mostrar en el mapa
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Gastos y beneficios
- 18 %
- 500,00 €
- Precio total
- IVA no incluido
- Gastos de transporte
- no incluidos
- Condiciones de entrega
- FCA Vöhringen, cargado en camión
- Condiciones de pago
- 100% previo cobro
Detalles técnicos
- Dimensiones en planta aprox. (l x w x h)
- 1.600 x 800 x 1.200 mm
- Peso aprox.
- 200 kg
Descripción
- Measuring station MarSurf XC 2
- including midrange standard control,
- XC 2 software, Mahr License Key
- MarWin PC
- Monitor TFT 24
- Manual control panel MCP 23
- Feed unit CD 120
- Measuring stand ST-500
- with HG plate 700 mm x 550 mm
- Fixture PCV / CD 120
- XY table CT 120
- Rotary adjustment for CT 120
- Calibration set contour standard
- Parallel vice PPS
- Hard stone panel 700 mm x 550 mm (L x W) with three
- 10 mm wide T-slots
- Measuring column with electrically adjustable height adjustment range
- of 500 mm* for the feed unit
- Easy to change holders
- The measuring stand contains a manual mechanical
- angle adjustment for the feed unit
- ST750 = 750 mm
- Scanning range (in X) 0.2 mm to 120 mm
- Measuring range (in Z) 50 mm with 350 mm probe arm
- 25 mm with 175 mm probe arm
- Measuring system (in X) High-precision incremental measuring system
- (factory calibration with laser interferometer)
- Measuring system (in Z) Inductive transducer with high accuracy and linearity
- linearity
- Resolution (in Z) in relation to probe tip 0.38 μm with 350 mm probe arm
- probe arm
- 0.19 μm with 175 mm probe arm
- Resolution (in Z) in relation to the measuring system 0.04 μm
- Guide deviation 1 μm (over 120 mm)
- Measuring direction (in X) forwards (+X), backwards (-X)
- Probing direction (in Z) downwards (-Z), upwards (+Z)
- Measuring force (in Z) 1 mN to 120 mN, downwards and upwards
- (adjustable in MarSurf XC 2)
- Scanning angle on smooth surfaces depending on deflection:
- falling edges up to 88°, rising edges up to 77°
- Measuring speed (in X) 0.2 mm / s to 4 mm / s
- Probing speed (in Z) 0.1 mm / s to 1 mm / s
- Positioning speed (in X)
- and return speed 0.2 mm / s to 8 mm / s
- Positioning speed (in Z) 0.2 mm / s to 10 mm / s
- Probe arm length 175 mm, 350 mm
- Probe tip radius 25 μm
Traducción automática
Detalles de la subasta
- lote núm.
- 19
- Documentos
- Términos especiales de la subasta
- Inspección
-
La ubicación precisa de los artículos está disponible bajo pedido.
Sin fecha fija.
La inspección solo se realiza con cita previa a través del correo lqu@surplex.com
- Recogida
-
Lunes, 30/09/2024 a
Jueves, 03/10/2024, de 8:00 horas a 16:00 horas
Leon Quentin Project Manager
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