MAHR MarSurf Conturograph

MAHR MarSurf Conturograph
Wskazówka
seria nr 19
Zakończenie aukcji: 24.09.24 14:18
2,900 € Aktualnie najwyższa oferta
1 oferta 10 Obserwujących
Zaloguj się, aby licytować
Włącz automatyczną licytację
+ opłata aukcyjna i VAT
MAHR MarSurf Conturograph
24.09.24 14:18
Zakończenie aukcji
2,900 €
Aktualnie najwyższa oferta
Nazwa
MAHR MarSurf Conturograph
Numer artykułu
945935
Producent
MAHR
Model / Typ
MarSurf
Rok produkcji
2007
Przedmiot dostępny od
immediately
Stan przedmiotu
Lokalizacja
Niemcy, 72189 Vöhringen
opłata aukcyjna
18 %
Koszt rozbiórki i załadunku (wiążąca)
500.00 €
Cena całkowita
Dodatkowo VAT
Koszty transportu
nie zawiera
Warunki dostawy
FCA Vöhringen, załadunek na ciężarówkę
Warunki płatności
100% zapłata przed odbiorem
wymiary montażowe ok. (dł. x szer. x wys.)
1,600 x 800 x 1,200 mm
Waga ok.
200 kg
  • Measuring station MarSurf XC 2
  • including midrange standard control,
  • XC 2 software, Mahr License Key
  • MarWin PC
  • Monitor TFT 24
  • Manual control panel MCP 23
  • Feed unit CD 120
  • Measuring stand ST-500
  • with HG plate 700 mm x 550 mm
  • Fixture PCV / CD 120
  • XY table CT 120
  • Rotary adjustment for CT 120
  • Calibration set contour standard
  • Parallel vice PPS
Technical data
  • Hard stone panel 700 mm x 550 mm (L x W) with three
  • 10 mm wide T-slots
  • Measuring column with electrically adjustable height adjustment range
  • of 500 mm* for the feed unit
  • Easy to change holders
  • The measuring stand contains a manual mechanical
  • angle adjustment for the feed unit
  • ST750 = 750 mm
  • Scanning range (in X) 0.2 mm to 120 mm
  • Measuring range (in Z) 50 mm with 350 mm probe arm
  • 25 mm with 175 mm probe arm
  • Measuring system (in X) High-precision incremental measuring system
  • (factory calibration with laser interferometer)
  • Measuring system (in Z) Inductive transducer with high accuracy and linearity
  • linearity
  • Resolution (in Z) in relation to probe tip 0.38 μm with 350 mm probe arm
  • probe arm
  • 0.19 μm with 175 mm probe arm
  • Resolution (in Z) in relation to the measuring system 0.04 μm
  • Guide deviation 1 μm (over 120 mm)
  • Measuring direction (in X) forwards (+X), backwards (-X)
  • Probing direction (in Z) downwards (-Z), upwards (+Z)
  • Measuring force (in Z) 1 mN to 120 mN, downwards and upwards
  • (adjustable in MarSurf XC 2)
  • Scanning angle on smooth surfaces depending on deflection:
  • falling edges up to 88°, rising edges up to 77°
  • Measuring speed (in X) 0.2 mm / s to 4 mm / s
  • Probing speed (in Z) 0.1 mm / s to 1 mm / s
  • Positioning speed (in X)
  • and return speed 0.2 mm / s to 8 mm / s
  • Positioning speed (in Z) 0.2 mm / s to 10 mm / s
  • Probe arm length 175 mm, 350 mm
  • Probe tip radius 25 μm
Pokaż tłumaczenie
Automatyczne tłumaczenie
Nazwa aukcji
Machines and Inventory for Metalworking
seria nr
19
Dokumenty
Szczegółowe zasady aukcji
Przegląd
Dokładny adres jest dostępny na życzenie.
No fixed date.

Viewing by appointment only! Please contact us in advance at lqu@surplex.com for an inspection appointment.
Odbiór
Poniedziałek, 30.09.2024 do
Czwartek, 03.10.2024, każdorazowo
od 08:00 do 16:00


Nasze usługi
  • Osobista obsługa w 16 językach
  • Konsultacje ekspertów na miejscu
  • Organizacja transportu na życzenie
  • Wsparcie przy papierach i odprawie celnej